ข้อมูลสินค้า
DeFelsko PosiTector RTR Series เครื่องวัดพื้นผิวเคลือบ Replica Tape Reader
DeFelsko PosiTector RTR Series เครื่องวัดลักษณะของพื้นผิวเคลือบ Replica Tape Reader
PosiTector PRB-RTR Series เครื่องวัดลักษณะของพื้นผิวเคลือบ ด้วยหลักการวัดค่าไมโครเมตรแบบดิจิตอลสปริงและลักษณะของพื้นผิวเคลือบโดยใช้ Testex Press-O-Film™ Replica Tape ซึ่งสามารถวัดค่าได้ทันทีโดยไม่จำเป็นต้องทำการคาลิเบรตก่อนการใช้งาน ตัวโพรบออกแบบมาเป็นพิเศษ Weatherproof ทนทานต่อ ตัวทำละลาย, กรด, น้ำมัน และฝุ่น และยังสามารถเชื่อมต่อ USB, WiFi และ Bluetooth ผ่านทาง PosiSoft PC, Mac และ Smartphone ได้อีกด้วย
1. Prepare | 2. Burnish | 3. Measure |
▲ ทำความสะอาดพื้นผิวสัมผัสทั้ง 2 ส่วน คือ พื้นผิวที่ต้องการทดสอบ และ PosiTector RTR3D ก่อนการทดสอบ
|
▲ นำ Testex Press-O-Film™ Replica Tape โดยใช้ด้านหลังแปะไว้บนพื้นผิว จากนั้นใช้ Burnish Tool ขัดบนวงกลมประมาณ 30-60 วินาที แล้วลอกเทปออก |
▲ ใส่เทปที่ทำการขัดเรียบร้อยแล้ว เข้าไปใน PosiTector RTR3D โดยให้ตำแหน่งที่ทำการขัดอยู่ตรงกลาง เมื่อตำแหน่งตรงแล้วให้กดปุ่มบนโพรบแล้วกดค้างไว้ จนกว่าเครื่องจะส่งสัญญาณและแสดงค่าการวัด |
|
||
Standard Model Feature:
|
Advanced Model Feature:
|
SmartLink Model Feature:
|
ขั้นตอนที่ 2 : เลือกเซนเซอร์
|
|
RTRH Feature:
●เหมาะสำหรับการวัดค่า Blasted Steel และ Textured Coatings
|
RTR3D Feature:
● สามารถแสดงผลลักษณะพื้นผิวได้แบบ 2D และ 3D
|
RTRH | |
Peak Height (HL) Range | 20 to 115 µm (0.8 to 4.5 mils) |
Peak height (HL) Accuracy | ±5 µm (+0.2 mils) |
Peak Height (HL) Resolution | ±1 µm (+0.2 mils) |
Anvil Pressure | 110 gram-force (1.1 Newtons) |
Anvil Diameter | ø6.3 mm (ø0.25 inch) |
Dimension / Weight | 152 x 61 x 28 mm / 140 g |
RTR3D | |
Measuring Range (H) | 20 to 115 µm (0.8 to 4.5 mils) |
Measuring Range (Rt) | 10 to 115 µm (0.4 to 4.5 mils) |
Minimum Roughness (Ra) | 2 µm (0.08 mil / 80 µin) |
Accuracy (H) | ± 5 µm, ± 0.2 mil |
Accuracy (Rt) * | ± (5 µm + 5%), ± (0.2 mil + 5%) |
Accuracy (Ra) * | ± (0.25 µm +5%), ± (0.01 mil +5%) |
Resolution | 0.01 µm, 0.01 mil |
Field of View | 3.8 x 3.8 mm, 0.149 x 0.149 inch |
Vertical Resolution |
100 nm (2D/3D), 10 nm (SDF) 3.93 µin (2D/3D), 0.393 µin (SDF) |
Lateral Sampling | 3.7 µm, 0.145 mil |
Anvil Diameter | ø6.25 mm, ø0.25 inch |
* When measured using Optical Grade X-Coarse Replica Tape